对于样品表面的一些化学信息较为关注时，会采用表面分析技术，目前表面分析涉及到的仪器有扫描电镜-能谱仪（SEM-EDS），X射线光电子能谱仪（XPS），俄歇电子能谱仪（AES）等。
 扫描电镜-能谱仪（SEM-EDS）可以对样品表面形貌观察，表面元素分析，截面形貌观察，截面元素分析等，分析深度一般为微米（10-6m）级别。

X射线光电子能谱仪（XPS）和俄歇电子能谱仪（AES）可对样品进行表面元素分析，表面纵向元素分析，表面元素价态分辨，分析深度通常为纳米(10-9m)级别。

样品体系

橡胶、塑料、胶黏剂、涂料、电镀液、油品、电子化学品、食品、药品、药品粉末、化妆品

测试仪器

分光光度计UV-Vis	离子色谱仪IC	自动电位滴定仪

 
 案例展示

1、无机混合粉末元素分析（SEM-EDS）

2、镀层厚度及元素分析（SEM-EDS）