单晶X射线衍射是利用单晶体对 X射线的衍射效应来测定晶体结构的实验方法。依照强度记录方式的不同,可分为照相法和衍射仪法两类。
性能指标:1、X-射线光源: 采用高强度微聚焦旋转阳极光源,Cu靶,功率2.5K W,管电压50kV,管电流50mA 2、测角仪:四轴(Kappa,ω,2θ,φ)测角仪,?360°旋转 ≤0.02°步长; ?/2? 步长≤0.002°;角度重现性±0.0001° 3、探测器:大面积photon II探测器,探测器有效面积14cm×10cm,探测器到样品的距离马达自动可调
主要应用:1、精确测定小分子无机物、有机物、配合物以及蛋白质大分子等晶态物质的三维空间结构(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 2、可提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。 3、晶体X-射线衍射数据收集、数据处理(还原、校正)、晶体结构解析、分子图、分子堆积图绘制等。
仪器说明:本仪器采用当前最先进技术,在化学结晶学领域准确、快速测定晶体结构,区分和确定晶体的手性及空间结构。可精确地测定小分子无机物、有机物、配合物以及蛋白质大分子等的晶态物质的结构。仪器包括:面探测器、高精度光学编码器测角仪、高稳定性的X射线发生器、高强度微聚焦旋转阳极、计算机控制系统以及控制、数据收集和分析处理、维护等软件和单晶结构解析软件。该仪器可广泛应用于材料、化学化工、生命、医药、环境等各领域。