性能指标：? X射线管 4kW薄窗，Rh靶 ? 分光器 10晶体可交换，5种狭缝可交换，高次线轮廓功能， 超高速分析功能 ? 最大扫描速度 300°/min ? 检测元素范围 9F-92U ? 检测浓度范围 0.0001%-100% ? 局部分析功能 分析直径500μm ? 成像功能 表示直径250μm

主要应用：X射线荧光光谱仪具有非破坏性、快速、精度高、定性及定量准确等优点，是原子吸收、ICP等仪器强有力的补充。X射线荧光光谱仪广泛应用于钢铁、有色、石化、地质、玻璃、电子、纳米材料等材料的化学元素成分快速分析

样品要求：? 样品有足够的代表性 ? 试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变形、不引起化学变化 1. 固体 ? 试样均匀，表面平整、光洁、无裂纹，无污染 ? 尺寸要求（mm） 大小：10×10～45×45；厚度：金属 陶瓷 1～20、塑料等有机质基体 5～20 2. 粉末（1）压片法 ? 样品均匀、粒度>200目 ? 样品量>5g ? 样品需干燥处理 ? 压片成形性较好（2）熔片法 ? 样品均匀、粒度>200目 ? 样品量（0.5g-2g） ? 硫化物、金属单质样品需特殊注明

仪器说明：主要应用： ? 可应用于物理、化学、地质地理、环保、冶金、材料等领域中的成份分析以及工矿企业质量监控 ? 能对固体、粉末、薄膜以及纳米材料中的元素进行定性定量分析 ? 多层镀膜的每层元素定性定量分析，膜厚测定 ? 样品微区分析 主要附件： ? LiF（200），Ge，PET，TAP， SX- 88，SX-98，SX-76， LiF（220）8块分光晶体，FPC、SC检测器；微区刻度尺 ? 振动磨、压样机、熔融炉主要特点： ? 可以实现样品的无损检测 ? 在没有标样的情况下对样品进行全元素（9F-92U）分析 ? 样品处理相对简单 ? 峰背比较高，分析灵敏度高